Elipsometri yönteminin temel ilkelerini ve ışığın polarizasyon hallerinin anlaşılmasını sağlamak.

Işığın polarizasyon hallerini ve polarize ışığın polarizleyici optik elemanlardan geçişini tanımlayan Jones matris formülasyonunu incelemek. İnce filmlerin optik özelliklerinin belirlenmesinde elipsometrik ölçüm tekniğinin kullanılması.